雙晶直探頭

裝有兩(liang)個晶(jing)片的探頭，一(yi)個(ge)作(zuo)為發射(she)器(qi)，另一個作為(wei)接(jie)收(shou)器。又(you)稱(cheng)分(fen)割(ge)式探(tan)頭、或(huo)者聯(lian)合(he)雙(shuang)探頭。雙晶探 頭主(zhu)要(yao)由插座、外殼、隔(ge)聲層(ceng)、發(fa)射晶片(pian)、接收晶片、延遲(chi)塊等組成。

功(gong)能(neng)特(te)點(dian)

插(cha)座為電氣(qi)接口，通(tong)過探頭線(xian)連接到(dao)儀(yi)器上(shang)去。

鋁(lv)合金(jin)外(wai)殼起到支(zhi)撐(cheng)、保(bao)護、電磁屏蔽(bi)的作用。

超聲(sheng)波聲束(shu)的(de)發射由(you)發射晶片完成。

接收晶片將(jiang)工件中反射回(hui)來的聲束轉(zhuan)換(huan)成電(dian)信(xin)號。

發射晶片和接收晶片之間(jian)，貼合有隔聲層。

晶片被(bei)粘(zhan)結在(zai)延(yan)遲塊(kuai)上，改(gai)變(bian)兩個延遲塊之(zhi)間的夾(jia)角(jiao)，可獲(huo)得(de)不同(tong)的焦(jiao)距值(zhi)。

提高(gao)近(jin)表(biao)麵(mian)缺(que)陷(xian)檢(jian)出能力(li)。

減少(shao)在粗(cu)晶或散(san)射材料(liao)中(zhong)的散射噪聲，提(ti)高檢測信噪(zao)比(bi)。

在粗糙或彎曲(qu)的檢測(ce)麵上耦(ou)合效(xiao)果好。

兩種(zhong)類(lei)型性能的探頭(tou)可(ke)滿足(zu)絕(jue)大(da)多(duo)數檢測要求(qiu)。

規(gui)格(ge)型號(hao)

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